Wyszukiwarka przyrządów pomiarowych - zakres wzorcowania
W przypadku zmiany kryteriów wyszukiwania należy w pierwszym kroku usunąć wybrane filtry.
Wybrane filtry
Usuń filtr w polu Wielkość mierzona o wartości długość fali| Dziedzina pomiarowa | Przyrząd pomiarowy | Wielkość mierzona | Zakres pomiarowy objęty akredytacją/metoda pomiarowa | Zakres pomiarowy poza akredytacją/metoda pomiarowa | Miejsce realizacji |
|---|---|---|---|---|---|
| Wielkości optyczne | Spektrofotrometry pryzmatyczne, siatkowe, filtroweDodaj do schowka-
|
długość fali
|
(270 ÷ 900) nm dla wartości ekstremów widma (wartość poszczególnych ekstremów po uzgodnieniu) | (270 ÷ 900) nm dla wartości ekstremów widma (wartość poszczególnych ekstremów po uzgodnieniu) |
OUM Poznań
|