Wyszukiwarka przyrządów pomiarowych - zakres wzorcowania
W przypadku zmiany kryteriów wyszukiwania należy w pierwszym kroku usunąć wybrane filtry.
| Dziedzina pomiarowa | Przyrząd pomiarowy | Wielkość mierzona | Zakres pomiarowy objęty akredytacją/metoda pomiarowa | Zakres pomiarowy poza akredytacją/metoda pomiarowa | Miejsce realizacji |
|---|---|---|---|---|---|
| Masa | Wzorce masy i odważniki klasy dokładności M1 (za wyjątkiem wzorców masy lub odważników wykonanych z żeliwa szarego)Dodaj do schowka-
|
masa
|
od 1 mg do 20 kg | od 1 mg do 50 kg |
OUM Poznań
|