Nawigacja

Informacje i komunikaty

„Metrologia podstawą systemu oceny zgodności”

Opublikowane przez : Agnieszka Borucka

W dniach 04 - 06 października 2017 r. odbyło się w Kielcach po raz ósmy sympozjum z cyklu "Metrologia w systemach zarządzania" z udziałem przedstawicieli naszego urzędu.

Informujemy, że w dniach 04 – 06 października 2017 r. odbyło się w Kielcach po raz ósmy sympozjum z cyklu "METROLOGIA W SYSTEMACH ZARZĄDZANIA", organizowane przez Klub POLSKIE FORUM ISO 9000. Celem tegorocznego sympozjum zatytułowanego "Metrologia podstawą systemu oceny zgodności" było doskonalenie wiedzy w procesie spełniania wymagań metrologicznych w systemach zarządzania oraz poznanie wymagań wynikających z nowych regulacji prawnych niezbędnych w praktycznych zastosowaniach w procesach oceny zgodności.

W trakcie  sympozjum referat pt. „Zarządzanie ryzykiem narzędziem do doskonalenia systemu nadzoru nad przyrządami pomiarowymi na rzecz ochrony interesu publicznego” wygłosiła reprezentująca Okręgowy Urząd Miar w Poznaniu, dr inż. Joanna Wiśniewska - Naczelnik Wydziału Organizacyjnego. 

Wiecej informacji na temat sympozjum na stronie Polskiego Forum ISO 9000.

 

do góry